設計・開発～試作・量産まで、課題解決をサポート！
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SEMは、Scanning Electron Microscopeの略称で、日本語では走査型電子顕微鏡となります。電子機器の材料分析において、試料の表面を高解像度で観察するための装置で、電子ビームを試料の表面に走査して画像を生成する電子顕微鏡の一種です。電子ビームが試料の原子と相互作用し、表面の形状や組成に関する情報を含む様々な信号を生成します。SEMは、ナノメートル単位の高解像度画像を取得できるため、材料科学、生物学、半導体研究など幅広い分野で使用されています。
